原子力显微镜在膜技术中的应用
摘 要：在简要介绍原子力显微镜(AFM)的工作原理和特点的基础上，详细阐述了原子力显微镜在三维形貌观测、膜的表面粗糙度、膜的透过通量、成分分析、成膜机理研究和膜表面污染程度等方面的应用，进一步比较原子力显微镜与其他显微分析技术的不同．原子力显微镜在膜技术方面显示了强大的应用能力，由此推动膜技术的迅猛发展．同时，AFM 存在一些不足，对于组成复杂的薄膜，不能获得深层次的结构和化学分析．因此，AFM 需要研发更多新的分子探针，以实现对薄膜多种组分的识别和成像．
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