摘 要：利用胶体晶体法沉积SiO₂ 三维光子晶体，利用扫描电子显微镜(SEM)和分光光度计研究该晶体的结构特性和光谱特征，考察颗粒浓度、反应温度对光子禁带的影响．结果表明：随着SiO₂ 颗粒浓度增大，反射强度随之增大，当浓度为1.92% 时，反射强度最大，进一步增加浓度反射强度降低，同时光子禁带宽度变窄，禁带位置蓝移；随着温度增加，反射强度增加，禁带位置蓝移．

论文下载：

10.pdf

  浏览次数：