摘 要：通过X 射线衍射和磁测量手段研究Tm₂CrFe_16-xSi_x(x=0，0.5，1.0，1.5，2.0，2.5，3.0)化合物的结构和居里温度．结果表明，Tm₂CrFe_16-xSi_x化合物具有Th₂Ni₁₇型结构，随着Si 替代量x 的增加，Tm₂CrFe_16-xSi_x化合物的单胞体积、晶胞参数都减小．在Tm₂CrFe_16-xSi_x化合物中存在着各向异性的磁弹耦合效应．随着x 的增加，Tm₂CrFe_16-xSi_x化合物的居里温度升高，在x=1.5 时达到最大值，约为450K，比Tm₂Fe₁₇化合物的居里温度高出约140 K，当x 继续增加时，Tm₂CrFe_16-xSi_x化合物的居里温度下降.

论文下载：

08.pdf

  浏览次数：